Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

GREAT

Janvi R. · Examiné il y a 23 jours

Manju L. · Examiné il y a 23 jours

Kishan S. · Examiné il y a 23 jours

Sumit R. · Examiné il y a 23 jours

Aanidhay A. · Examiné il y a 23 jours

Ankit G. · Examiné il y a 23 jours

KHUSHI G. · Examiné il y a 23 jours

Sahil A. · Examiné il y a 23 jours

Prem K. · Examiné il y a 23 jours

Diksha N. · Examiné il y a 23 jours

Aditya R. · Examiné il y a 23 jours

7SG- C. · Examiné il y a 23 jours

Yashfin S. · Examiné il y a 23 jours

Heykal S. · Examiné il y a 23 jours

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great

Titash G. · Examiné il y a 23 jours

Kotha Venkata Lakshmi S. · Examiné il y a 23 jours

nice

ANIRBAN C. · Examiné il y a 23 jours

nice challenge

Kurnianto T. · Examiné il y a 23 jours

Kaushal k. · Examiné il y a 23 jours

Karun R. · Examiné il y a 23 jours

Ullas D. · Examiné il y a 23 jours

Kriti K. · Examiné il y a 23 jours

Teerth U. · Examiné il y a 23 jours

Elnathan D. · Examiné il y a 23 jours