Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Sheetal K. · Examiné il y a 23 jours

Vivek C. · Examiné il y a 23 jours

Ved R. · Examiné il y a 23 jours

Prachi U. · Examiné il y a 23 jours

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Rohit T. · Examiné il y a 23 jours

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Tanvi D. · Examiné il y a 23 jours

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Ventapalli S. · Examiné il y a 23 jours

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Akbar I. · Examiné il y a 23 jours

Yayes Kasnanda B. · Examiné il y a 23 jours

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Dandi l. · Examiné il y a 23 jours

Aditya P. · Examiné il y a 23 jours

Ujwal B. · Examiné il y a 23 jours

Prabhakaran J. · Examiné il y a 23 jours

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Krishnesh T. · Examiné il y a 23 jours

Thomas K. · Examiné il y a 23 jours