Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Sudarsh C. · Examiné il y a 26 jours

Shubhansh G. · Examiné il y a 26 jours

Nice

SUMIT S. · Examiné il y a 26 jours

Arya G. · Examiné il y a 26 jours

Ari P. · Examiné il y a 26 jours

Ishika B. · Examiné il y a 26 jours

Muhammad R. · Examiné il y a 26 jours

Vanshika v. · Examiné il y a 26 jours

Mohini B. · Examiné il y a 26 jours

SK DULAL I. · Examiné il y a 26 jours

Abhishek P. · Examiné il y a 26 jours

Tanisha G. · Examiné il y a 26 jours

Suresh V. · Examiné il y a 26 jours

Nabamit D. · Examiné il y a 26 jours

SonGokū ゴ. · Examiné il y a 26 jours

Aditya N. · Examiné il y a 26 jours

Chirayu V. · Examiné il y a 26 jours

KARTIKEY N. · Examiné il y a 26 jours

Parthiv K. · Examiné il y a 26 jours

Anugrah D. · Examiné il y a 26 jours

raj G. · Examiné il y a 26 jours

Hasbi H. · Examiné il y a 26 jours

Fani W. · Examiné il y a 26 jours

NIKITA J. · Examiné il y a 26 jours

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Makmurry A. · Examiné il y a 26 jours