Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis
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Subasish M. · Examiné il y a 27 jours
Prabal V. · Examiné il y a 27 jours
Geetesh K. · Examiné il y a 27 jours
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Aditya S. · Examiné il y a 27 jours
Kasturi S. · Examiné il y a 27 jours
Sasi Sekhar T. · Examiné il y a 27 jours
Debadrita C. · Examiné il y a 27 jours
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Darshith C. · Examiné il y a 27 jours
Zaid G. · Examiné il y a 27 jours
Ahyad Izzuddin S. · Examiné il y a 27 jours
Vedant P. · Examiné il y a 27 jours
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Yakshi R. · Examiné il y a 27 jours
Devapriya S. · Examiné il y a 27 jours
Nitin W. · Examiné il y a 27 jours
Mridul G. · Examiné il y a 27 jours
Sneha Y. · Examiné il y a 27 jours
Xosya S. · Examiné il y a 27 jours
Mridul K. · Examiné il y a 27 jours
K
B. S. V. Praveen K. · Examiné il y a 27 jours
Black P. · Examiné il y a 27 jours
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B. S. V. Praveen K. · Examiné il y a 27 jours
Arlan T. · Examiné il y a 27 jours
Harsh .. · Examiné il y a 27 jours
Joseph C. · Examiné il y a 27 jours
Mariya S. · Examiné il y a 27 jours
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