Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Ajay V. · Examiné il y a 30 jours

Mayuresh D. · Examiné il y a 30 jours

Yayes Kasnanda B. · Examiné il y a 30 jours

Pratik M. · Examiné il y a 30 jours

nice

Aditya Mohan S. · Examiné il y a 30 jours

Suneel P. · Examiné il y a 30 jours

Chandan C. · Examiné il y a 30 jours

Abhijeet M. · Examiné il y a 30 jours

Robin D. · Examiné il y a 30 jours

R K. · Examiné il y a 30 jours

KINJAL K. · Examiné il y a 30 jours

Jayesh P. · Examiné il y a 30 jours

Mayank J. · Examiné il y a 30 jours

Riki W. · Examiné il y a 30 jours

Shubham B. · Examiné il y a 30 jours

Riki W. · Examiné il y a 30 jours

Subhrajyoti P. · Examiné il y a 30 jours

Muhammad Yusuf R. · Examiné il y a 30 jours

Good Lab

Sira H. · Examiné il y a 30 jours

DHAYANAND K. · Examiné il y a 30 jours

Seershika B. · Examiné il y a 30 jours

Great

Dwi Putri A S. · Examiné il y a 30 jours

Akash M. · Examiné il y a environ un mois

Akash S. · Examiné il y a environ un mois

Maila F. · Examiné il y a environ un mois