Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Syahrani Puspita W. · Examiné il y a 3 mois

U20EE055 O. · Examiné il y a 3 mois

Tanishq Z. · Examiné il y a 3 mois

Sourabh G. · Examiné il y a 3 mois

PASSED p

ARBIND KUMAR G. · Examiné il y a 3 mois

Shubhabrata C. · Examiné il y a 3 mois

Raza I. · Examiné il y a 3 mois

Harsh K. · Examiné il y a 3 mois

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Tuhin R. · Examiné il y a 3 mois

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Md S. · Examiné il y a 3 mois

Abhishek V. · Examiné il y a 3 mois

nice

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Najiya S. · Examiné il y a 3 mois

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Shubham S. · Examiné il y a 3 mois

Good

Donthula S. · Examiné il y a 3 mois

Asim B. · Examiné il y a 3 mois