Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Charan K. · Examiné il y a 2 jours

유리 홍. · Examiné il y a 4 jours

Aditya P. · Examiné il y a 5 jours

Kaizin P. · Examiné il y a 6 jours

Great!

Chaitanya D. · Examiné il y a 6 jours

Sagar M. · Examiné il y a 7 jours

Purva s. · Examiné il y a 8 jours

David W. · Examiné il y a 10 jours

희태 최. · Examiné il y a 10 jours

SangKug C. · Examiné il y a 10 jours

손 경. · Examiné il y a 11 jours

Sana M. · Examiné il y a 13 jours

Samuel C. · Examiné il y a 13 jours

Tharreq A. · Examiné il y a 13 jours

Solvatar Winfild Reconcile D. · Examiné il y a 13 jours

Rifky A. · Examiné il y a 13 jours

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M Fathurrohman M. · Examiné il y a 13 jours

Furqan R. · Examiné il y a 13 jours

Shidqi R. · Examiné il y a 13 jours

Adam G. · Examiné il y a 13 jours

Wiranto Mohammad G. · Examiné il y a 13 jours

Ignatius Aditya S. · Examiné il y a 13 jours

Dicky R. · Examiné il y a 13 jours

erwin h. · Examiné il y a 13 jours

Yodi m. · Examiné il y a 13 jours