Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis

Ripan G. · Examiné il y a environ 6 heures

주호 이. · Examiné il y a environ 11 heures

belliny K. · Examiné il y a 1 jour

JaeHyun Y. · Examiné il y a 2 jours

Lloyd W. · Examiné il y a 3 jours

Arpit S. · Examiné il y a 3 jours

Duseok R. · Examiné il y a 3 jours

joonha L. · Examiné il y a 3 jours

JaeHoon L. · Examiné il y a 4 jours

Andrii B. · Examiné il y a 4 jours

Eugene Minwhoan K. · Examiné il y a 4 jours

good lab

Ruddraksh P. · Examiné il y a 5 jours

Apricot S. · Examiné il y a 5 jours

good

Lina L. · Examiné il y a 6 jours

영찬 김. · Examiné il y a 6 jours

Charan K. · Examiné il y a 9 jours

유리 홍. · Examiné il y a 10 jours

Aditya P. · Examiné il y a 12 jours

Kaizin P. · Examiné il y a 13 jours

Great!

Chaitanya D. · Examiné il y a 13 jours

Sagar M. · Examiné il y a 14 jours

Purva s. · Examiné il y a 15 jours

David W. · Examiné il y a 16 jours

희태 최. · Examiné il y a 16 jours

SangKug C. · Examiné il y a 17 jours