Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis
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Vagdevi C. · Examiné il y a 23 jours
Vaibhav G. · Examiné il y a 23 jours
184_om G. · Examiné il y a 23 jours
BATTULA V. · Examiné il y a 23 jours
Pratik J. · Examiné il y a 23 jours
Yashika C. · Examiné il y a 23 jours
SAURAVE V S T. · Examiné il y a 23 jours
SAI BHAVYA S. · Examiné il y a 23 jours
Mohamad Arif M. · Examiné il y a 23 jours
Omkar P. · Examiné il y a 23 jours
ff
Jaydip R. · Examiné il y a 23 jours
excellent
ATUL K. · Examiné il y a 23 jours
Abhishek H. · Examiné il y a 23 jours
Vaishnavi M. · Examiné il y a 23 jours
Sneha J. · Examiné il y a 23 jours
Ni Made W. · Examiné il y a 23 jours
GCP E. · Examiné il y a 23 jours
Nice Lab
Udit V. · Examiné il y a 23 jours
Abhishek K. · Examiné il y a 23 jours
Preetam S. · Examiné il y a 23 jours
Eveline J. · Examiné il y a 23 jours
RITESH C. · Examiné il y a 23 jours
Vaibhav S. · Examiné il y a 23 jours
Ganesh S. · Examiné il y a 23 jours
srusti p. · Examiné il y a 23 jours
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