Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab avis
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Shubham J. · Examiné il y a 25 jours
Raj S. · Examiné il y a 25 jours
Umme Athiya N. · Examiné il y a 25 jours
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Pallavi P. · Examiné il y a 25 jours
Iqra A. · Examiné il y a 25 jours
wahid h. · Examiné il y a 25 jours
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PRAKHAR A. · Examiné il y a 25 jours
Difa S. · Examiné il y a 25 jours
fadhl a. · Examiné il y a 25 jours
Vishwa P. · Examiné il y a 25 jours
Lil F. · Examiné il y a 25 jours
urbi c. · Examiné il y a 25 jours
Kuldeep S. · Examiné il y a 25 jours
Urbi C. · Examiné il y a 25 jours
Parmeet S. · Examiné il y a 25 jours
Deepanshi G. · Examiné il y a 25 jours
Parth S. · Examiné il y a 25 jours
Mohammed Z. · Examiné il y a 25 jours
Tanu G. · Examiné il y a 25 jours
vidisha m. · Examiné il y a 25 jours
Deepanshi G. · Examiné il y a 25 jours
Prashant B. · Examiné il y a 25 jours
Nur M. · Examiné il y a 25 jours
Lavanya B. · Examiné il y a 25 jours
Hadyan A. · Examiné il y a 25 jours
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