Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Theodorus Yosia Raffael G. · Відгук надано 20 днів тому

Hasib P. · Відгук надано 20 днів тому

Suraj K. · Відгук надано 20 днів тому

Muhammad Salman A. · Відгук надано 20 днів тому

Audi Ilham A. · Відгук надано 20 днів тому

Akmal P. · Відгук надано 20 днів тому

Samuel Mahesa S. · Відгук надано 20 днів тому

Erlaend M. · Відгук надано 20 днів тому

Suraj K. · Відгук надано 20 днів тому

Gift A. · Відгук надано 20 днів тому

Lukman A. · Відгук надано 20 днів тому

Tisha Rani D. · Відгук надано 21 день тому

GREAT!

mitali c. · Відгук надано 21 день тому

Jushmita K. · Відгук надано 21 день тому

sreelekha s. · Відгук надано 21 день тому

Amisha S. · Відгук надано 21 день тому

Deep p. · Відгук надано 21 день тому

Harshit P. · Відгук надано 21 день тому

Chetan K. · Відгук надано 21 день тому

Aditi N. · Відгук надано 21 день тому

aastha y. · Відгук надано 21 день тому

Ajinkya K. · Відгук надано 21 день тому

Pranjal G. · Відгук надано 21 день тому

Taranjit S. · Відгук надано 21 день тому

octane g. · Відгук надано 21 день тому