Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Suvarna G. · Відгук надано 21 день тому

Abhinay P. · Відгук надано 21 день тому

Vijay H. · Відгук надано 21 день тому

Nilankan P. · Відгук надано 21 день тому

Jitendra P. · Відгук надано 21 день тому

Anurag N. · Відгук надано 21 день тому

Saniya G. · Відгук надано 21 день тому

Moch Aril I. · Відгук надано 21 день тому

Random S. · Відгук надано 21 день тому

nikhitha a. · Відгук надано 21 день тому

kadiyala p. · Відгук надано 21 день тому

om s. · Відгук надано 21 день тому

Punit S. · Відгук надано 21 день тому

Bundele D. · Відгук надано 21 день тому

Saurav K. · Відгук надано 21 день тому

Deepak K. · Відгук надано 21 день тому

Sonali S. · Відгук надано 21 день тому

Naufal M. · Відгук надано 21 день тому

ACHMAD ALFAN A. · Відгук надано 21 день тому

Muskan M. · Відгук надано 21 день тому

Mohit A. · Відгук надано 21 день тому

farheensaba s. · Відгук надано 21 день тому

Khushi K. · Відгук надано 21 день тому

Sentot S. · Відгук надано 21 день тому

Rittwika D. · Відгук надано 21 день тому