Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

kadiyala p. · Відгук надано 21 день тому

Alpa R. · Відгук надано 21 день тому

Sankhya L. · Відгук надано 21 день тому

Yulia V. · Відгук надано 21 день тому

Varsha S. · Відгук надано 21 день тому

Nova Y. · Відгук надано 21 день тому

Dwi S. · Відгук надано 21 день тому

Saketh N. · Відгук надано 21 день тому

Sabir M. · Відгук надано 21 день тому

Muhammad Ilham B. · Відгук надано 21 день тому

Happy Y. · Відгук надано 21 день тому

Satya N. · Відгук надано 21 день тому

Satya M. · Відгук надано 21 день тому

Great

Nandini Y. · Відгук надано 21 день тому

Vansh g. · Відгук надано 21 день тому

Saharsh S. · Відгук надано 21 день тому

Kartik H. · Відгук надано 21 день тому

great

Nikita S. · Відгук надано 21 день тому

Galih E. · Відгук надано 21 день тому

Yogeshwaran s. · Відгук надано 21 день тому

NIRVIK G. · Відгук надано 21 день тому

Arpan A. · Відгук надано 21 день тому

Mohammed M. · Відгук надано 21 день тому

Tanmoy D. · Відгук надано 21 день тому

Mubarak H. · Відгук надано 21 день тому