Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Anirudh K. · Відгук надано 22 дні тому

Anshu K. · Відгук надано 22 дні тому

daiyan uthsa r. · Відгук надано 22 дні тому

Hanun L. · Відгук надано 22 дні тому

Eileen X. · Відгук надано 22 дні тому

Atharva K. · Відгук надано 22 дні тому

Incridible!

I Putu Aditya W. · Відгук надано 22 дні тому

Kylie H. · Відгук надано 22 дні тому

Mohammad A. · Відгук надано 22 дні тому

Malcolm S. · Відгук надано 22 дні тому

Carlos V. · Відгук надано 22 дні тому

Denis K. · Відгук надано 22 дні тому

Furkan K. · Відгук надано 22 дні тому

Rubén Darío G. · Відгук надано 22 дні тому

Suraj K. · Відгук надано 22 дні тому

Subodh C. · Відгук надано 22 дні тому

good lab

Ihjas A. · Відгук надано 22 дні тому

aniket c. · Відгук надано 22 дні тому

Anushree P. · Відгук надано 22 дні тому

ncie'

Karan Singh G. · Відгук надано 22 дні тому

s r. · Відгук надано 22 дні тому

laxita s. · Відгук надано 22 дні тому

Vanshika S. · Відгук надано 22 дні тому

Sayan Guchhait C. · Відгук надано 22 дні тому

Debosmita (. · Відгук надано 22 дні тому