Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Kunal S. · Відгук надано 24 дні тому

Nivedita S. · Відгук надано 24 дні тому

Karnika G. · Відгук надано 24 дні тому

Vanshika F. · Відгук надано 24 дні тому

Sohan P. · Відгук надано 24 дні тому

Dhaval V. · Відгук надано 24 дні тому

Sayon S. · Відгук надано 24 дні тому

Onkar H. · Відгук надано 24 дні тому

Tree G. · Відгук надано 24 дні тому

Kannika Mahesh D. · Відгук надано 24 дні тому

Dheeraj D. · Відгук надано 24 дні тому

Satnam Singh M. · Відгук надано 24 дні тому

Arosh G. · Відгук надано 24 дні тому

Sainath G. · Відгук надано 24 дні тому

Rahi P. · Відгук надано 24 дні тому

Kunal D. · Відгук надано 24 дні тому

Satyam M. · Відгук надано 24 дні тому

Good

Om K. · Відгук надано 24 дні тому

pranita n. · Відгук надано 24 дні тому

Abhra T. · Відгук надано 24 дні тому

Aditi G. · Відгук надано 24 дні тому

AMARESWAR CHOWDARY N. · Відгук надано 24 дні тому

BIDISHA SONUSAUMYA B. · Відгук надано 24 дні тому

pratik b. · Відгук надано 24 дні тому

Tadvab P. · Відгук надано 24 дні тому