Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Zam Walton P M G. · Відгук надано 24 дні тому

konduru k. · Відгук надано 24 дні тому

Padala P. · Відгук надано 24 дні тому

Rohit Sridhar L. · Відгук надано 24 дні тому

Rohit Sridhar L. · Відгук надано 24 дні тому

Shilpa S. · Відгук надано 24 дні тому

Saumitra P. · Відгук надано 24 дні тому

Anshul C. · Відгук надано 24 дні тому

Athira S. · Відгук надано 24 дні тому

agung d. · Відгук надано 24 дні тому

Pranshu S. · Відгук надано 24 дні тому

Shruti Y. · Відгук надано 24 дні тому

Arpita S. · Відгук надано 24 дні тому

Dipal R. · Відгук надано 24 дні тому

Mohammad Bilal P. · Відгук надано 24 дні тому

vinothini R. · Відгук надано 24 дні тому

TEJASRI V. · Відгук надано 24 дні тому

Beni -. · Відгук надано 24 дні тому

Praveena rajeswari devi P. · Відгук надано 24 дні тому

Ayush T. · Відгук надано 24 дні тому

DJ D. · Відгук надано 24 дні тому

Manasa V. · Відгук надано 24 дні тому

RITURAJ K. · Відгук надано 24 дні тому

Faiq F. · Відгук надано 24 дні тому

PRIYANSHU C. · Відгук надано 24 дні тому