Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Disha Y. · Відгук надано 26 днів тому

Bit B. · Відгук надано 26 днів тому

Vanshika F. · Відгук надано 26 днів тому

DHUPAL CHANDRA D. · Відгук надано 26 днів тому

vamshikrishna g. · Відгук надано 26 днів тому

Deep D. · Відгук надано 26 днів тому

Deep D. · Відгук надано 26 днів тому

ffghjkl

Yogesh R. · Відгук надано 26 днів тому

Adam M. · Відгук надано 26 днів тому

Hemanth R. · Відгук надано 26 днів тому

Vivank J. · Відгук надано 26 днів тому

Ishwari s. · Відгук надано 26 днів тому

Jay M. · Відгук надано 26 днів тому

Zabee A. · Відгук надано 26 днів тому

shiva Y. · Відгук надано 26 днів тому

Priyanka D. · Відгук надано 26 днів тому

Kanishka P. · Відгук надано 26 днів тому

Akhilraju K. · Відгук надано 26 днів тому

nikhitha a. · Відгук надано 26 днів тому

Benzene 6242 A. · Відгук надано 26 днів тому

Nitesh K. · Відгук надано 26 днів тому

dev l. · Відгук надано 26 днів тому

Pradeep N. · Відгук надано 26 днів тому

Done

Shubham P. · Відгук надано 26 днів тому

ASMA F. · Відгук надано 26 днів тому