Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Koushik D. · Відгук надано 26 днів тому

Nishtha J. · Відгук надано 26 днів тому

Aanchal p. · Відгук надано 26 днів тому

S ARABINDA R. · Відгук надано 26 днів тому

Sahiba T. · Відгук надано 26 днів тому

srashti s. · Відгук надано 26 днів тому

Karan C. · Відгук надано 26 днів тому

prince c. · Відгук надано 26 днів тому

Reehana J. · Відгук надано 26 днів тому

Shubham K. · Відгук надано 26 днів тому

Nakshatra R. · Відгук надано 26 днів тому

Adrija H. · Відгук надано 26 днів тому

Vivek K. · Відгук надано 26 днів тому

Tanmay C. · Відгук надано 26 днів тому

RESHMA Z. · Відгук надано 26 днів тому

Arjuna M. · Відгук надано 26 днів тому

Priyanka S. · Відгук надано 26 днів тому

22501A1267 M. · Відгук надано 26 днів тому

Harshil S. · Відгук надано 26 днів тому

Harshil S. · Відгук надано 26 днів тому

Shashikanth R. · Відгук надано 26 днів тому

Md Junaid Aqdas A. · Відгук надано 26 днів тому

Abdullah Y. · Відгук надано 26 днів тому

Ayushi K. · Відгук надано 26 днів тому

Raffel R. · Відгук надано 26 днів тому