Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Moch Galang R. · Відгук надано 9 днів тому

divyom c. · Відгук надано 9 днів тому

Taufiq Qurohman R. · Відгук надано 9 днів тому

David W. · Відгук надано 9 днів тому

Farrel H. · Відгук надано 9 днів тому

Anozi M. · Відгук надано 9 днів тому

a little too easy. How can we perform prediction throughout the whole cloud bucket?

Irfan B. · Відгук надано 9 днів тому

Irvan A. · Відгук надано 9 днів тому

Alif Maulana A. · Відгук надано 9 днів тому

Irfan K. · Відгук надано 9 днів тому

Bryan P. · Відгук надано 9 днів тому

Ika N. · Відгук надано 9 днів тому

Ika N. · Відгук надано 9 днів тому

adrian r. · Відгук надано 9 днів тому

Purrsonal P. · Відгук надано 9 днів тому

Nabila N. · Відгук надано 9 днів тому

Muhammad A. · Відгук надано 9 днів тому

Arizki P. · Відгук надано 9 днів тому

Good

donayxsmallgcpjuara G. · Відгук надано 9 днів тому

Hisbi A. · Відгук надано 9 днів тому

Iqbal H. · Відгук надано 9 днів тому

Uga G. · Відгук надано 9 днів тому

Jerikho S. · Відгук надано 9 днів тому

1

UltraLobe G. · Відгук надано 10 днів тому

Danis A. · Відгук надано 10 днів тому