Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Ajay V. · Відгук надано 30 днів тому

Mayuresh D. · Відгук надано 30 днів тому

Yayes Kasnanda B. · Відгук надано 30 днів тому

Pratik M. · Відгук надано 30 днів тому

nice

Aditya Mohan S. · Відгук надано 30 днів тому

Suneel P. · Відгук надано 30 днів тому

Chandan C. · Відгук надано 30 днів тому

Abhijeet M. · Відгук надано 30 днів тому

Robin D. · Відгук надано 30 днів тому

R K. · Відгук надано 30 днів тому

KINJAL K. · Відгук надано 30 днів тому

Jayesh P. · Відгук надано 30 днів тому

Mayank J. · Відгук надано 30 днів тому

Riki W. · Відгук надано 30 днів тому

Shubham B. · Відгук надано 30 днів тому

Riki W. · Відгук надано 30 днів тому

Subhrajyoti P. · Відгук надано 30 днів тому

Muhammad Yusuf R. · Відгук надано 30 днів тому

Good Lab

Sira H. · Відгук надано 30 днів тому

DHAYANAND K. · Відгук надано 30 днів тому

Seershika B. · Відгук надано 30 днів тому

Great

Dwi Putri A S. · Відгук надано 30 днів тому

Akash M. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Akash S. · Відгук надано близько 1 місяця тому

Maila F. · Відгук надано близько 1 місяця тому