Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Minjae G. · Відгук надано близько 4 годин тому

Ripan G. · Відгук надано близько 12 годин тому

주호 이. · Відгук надано близько 16 годин тому

belliny K. · Відгук надано 1 день тому

JaeHyun Y. · Відгук надано 2 дні тому

Lloyd W. · Відгук надано 3 дні тому

Arpit S. · Відгук надано 3 дні тому

Duseok R. · Відгук надано 4 дні тому

joonha L. · Відгук надано 4 дні тому

JaeHoon L. · Відгук надано 4 дні тому

Andrii B. · Відгук надано 4 дні тому

Eugene Minwhoan K. · Відгук надано 4 дні тому

good lab

Ruddraksh P. · Відгук надано 5 днів тому

Apricot S. · Відгук надано 5 днів тому

good

Lina L. · Відгук надано 6 днів тому

영찬 김. · Відгук надано 7 днів тому

Charan K. · Відгук надано 9 днів тому

유리 홍. · Відгук надано 11 днів тому

Aditya P. · Відгук надано 12 днів тому

Kaizin P. · Відгук надано 13 днів тому

Great!

Chaitanya D. · Відгук надано 13 днів тому

Sagar M. · Відгук надано 14 днів тому

Purva s. · Відгук надано 15 днів тому

David W. · Відгук надано 17 днів тому

희태 최. · Відгук надано 17 днів тому