Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

耕平 石. · Відгук надано близько 9 годин тому

Lakshmi Narayana V. · Відгук надано близько 23 годин тому

Sujal M. · Відгук надано 2 дні тому

Debayan K. · Відгук надано 3 дні тому

Sougata P. · Відгук надано 3 дні тому

Mohammed E. · Відгук надано 4 дні тому

Víctor R. · Відгук надано 4 дні тому

Ren Jacob C. · Відгук надано 4 дні тому

Srijib D. · Відгук надано 5 днів тому

Zivile L. · Відгук надано 5 днів тому

Ray G. · Відгук надано 5 днів тому

PINAKI S. · Відгук надано 6 днів тому

Good

N.Praneeth G. · Відгук надано 6 днів тому

PHANI G. · Відгук надано 6 днів тому

Manish Kumar Yadav G. · Відгук надано 6 днів тому

Congratulations

Priyush K. · Відгук надано 7 днів тому

Anshika R. · Відгук надано 8 днів тому

Pravin M. · Відгук надано 8 днів тому

Aryan R. · Відгук надано 8 днів тому

Good

Maulik P. · Відгук надано 8 днів тому

Ananya R. · Відгук надано 8 днів тому

Kumar A. · Відгук надано 8 днів тому

Rohit C. · Відгук надано 8 днів тому

Lionel Jason D. · Відгук надано 9 днів тому

Dinesh Kumar G. · Відгук надано 9 днів тому