Відгуки: Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab

Charan K. · Відгук надано 2 дні тому

유리 홍. · Відгук надано 3 дні тому

Aditya P. · Відгук надано 5 днів тому

Kaizin P. · Відгук надано 6 днів тому

Great!

Chaitanya D. · Відгук надано 6 днів тому

Sagar M. · Відгук надано 7 днів тому

Purva s. · Відгук надано 8 днів тому

David W. · Відгук надано 9 днів тому

희태 최. · Відгук надано 9 днів тому

SangKug C. · Відгук надано 10 днів тому

손 경. · Відгук надано 11 днів тому

Sana M. · Відгук надано 13 днів тому

Samuel C. · Відгук надано 13 днів тому

Tharreq A. · Відгук надано 13 днів тому

Solvatar Winfild Reconcile D. · Відгук надано 13 днів тому

Rifky A. · Відгук надано 13 днів тому

hello world

M Fathurrohman M. · Відгук надано 13 днів тому

Furqan R. · Відгук надано 13 днів тому

Shidqi R. · Відгук надано 13 днів тому

Adam G. · Відгук надано 13 днів тому

Wiranto Mohammad G. · Відгук надано 13 днів тому

Ignatius Aditya S. · Відгук надано 13 днів тому

Dicky R. · Відгук надано 13 днів тому

erwin h. · Відгук надано 13 днів тому

Yodi m. · Відгук надано 13 днів тому