关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Gourabananda D. · 已于 about 1 month前审核

Sanskruti P. · 已于 about 1 month前审核

Neha K. · 已于 about 1 month前审核

Rajas Y. · 已于 about 1 month前审核

Anirban B. · 已于 about 1 month前审核

JAGAN K. · 已于 about 1 month前审核

Itishree S. · 已于 about 1 month前审核

Arcade_ R. · 已于 about 1 month前审核

Good lab

Sunil K. · 已于 about 1 month前审核

Rohak A. · 已于 about 1 month前审核

Kartik B. · 已于 about 1 month前审核

Smita S. · 已于 about 1 month前审核

Aradhana J. · 已于 about 1 month前审核

Ujjwal S. · 已于 about 1 month前审核

Suryansh G. · 已于 about 1 month前审核

Parth S. · 已于 about 1 month前审核

Sumit S. · 已于 about 1 month前审核

Rudra S. · 已于 about 1 month前审核

Sibaprasad m. · 已于 about 1 month前审核

Riya K. · 已于 about 1 month前审核

Shrushti G. · 已于 about 1 month前审核

Sahil Singh R. · 已于 about 1 month前审核

Chinmay C. · 已于 about 1 month前审核

Nice

Vishnu K R. · 已于 about 1 month前审核

Kartikey Y. · 已于 about 1 month前审核