关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Kunal S. · 已于 24 days前审核

Nivedita S. · 已于 24 days前审核

Karnika G. · 已于 24 days前审核

Vanshika F. · 已于 24 days前审核

Sohan P. · 已于 24 days前审核

Dhaval V. · 已于 24 days前审核

Sayon S. · 已于 24 days前审核

Onkar H. · 已于 24 days前审核

Tree G. · 已于 24 days前审核

Kannika Mahesh D. · 已于 24 days前审核

Dheeraj D. · 已于 24 days前审核

Satnam Singh M. · 已于 24 days前审核

Arosh G. · 已于 24 days前审核

Sainath G. · 已于 24 days前审核

Rahi P. · 已于 24 days前审核

Kunal D. · 已于 24 days前审核

Satyam M. · 已于 24 days前审核

Good

Om K. · 已于 24 days前审核

pranita n. · 已于 24 days前审核

Abhra T. · 已于 24 days前审核

Aditi G. · 已于 24 days前审核

AMARESWAR CHOWDARY N. · 已于 24 days前审核

BIDISHA SONUSAUMYA B. · 已于 24 days前审核

pratik b. · 已于 24 days前审核

Tadvab P. · 已于 24 days前审核