关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Dany K. · 已于 about 1 month前审核

Jui P. · 已于 about 1 month前审核

OMKARA ANJANEYA KUMAR R. · 已于 about 1 month前审核

Saniya I. · 已于 about 1 month前审核

nice

Arch N. · 已于 about 1 month前审核

Tapasya B. · 已于 about 1 month前审核

good lab

Saurabh K. · 已于 about 1 month前审核

Rozin A. · 已于 about 1 month前审核

MURARI K. · 已于 about 1 month前审核

Siddharth mohapatra G. · 已于 about 1 month前审核

Sumit prasad G. · 已于 about 1 month前审核

AJAY C. · 已于 about 1 month前审核

too good

Ahab A. · 已于 about 1 month前审核

Mohammed Z. · 已于 about 1 month前审核

Chaitanya Y. · 已于 about 1 month前审核

Reynaldy N. · 已于 about 1 month前审核

DEEPSHIKHA G. · 已于 about 1 month前审核

sial l. · 已于 about 1 month前审核

Mahesh K. · 已于 about 1 month前审核

Amisha Y. · 已于 about 1 month前审核

Djie V. · 已于 about 1 month前审核

shubham m. · 已于 about 1 month前审核

sai g. · 已于 about 1 month前审核

Muhammed Niyas G. · 已于 about 1 month前审核

Subham K. · 已于 about 1 month前审核