关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

UTKARSH B. · 评论about 1 month之前

Vinayak Kumar S. · 评论about 1 month之前

Razia K. · 评论about 1 month之前

Erik Feri F. · 评论about 1 month之前

Good Lab

SWARNENDU G. · 评论about 1 month之前

Sai Sanjibani N. · 评论about 1 month之前

great labs

Navneet K. · 评论about 1 month之前

Pravesh T. · 评论about 1 month之前

Dreemi P. · 评论about 1 month之前

Abhinaya A. · 评论about 1 month之前

Ananya G. · 评论about 1 month之前

Mahendar c. · 评论about 1 month之前

Shooting S. · 评论about 1 month之前

great

Pankaj N. · 评论about 1 month之前

Naitik P. · 评论about 1 month之前

Good

Suvetha S. · 评论about 1 month之前

Amborish S. · 评论about 1 month之前

Akundi A. · 评论about 1 month之前

Gokul M. · 评论about 1 month之前

Ok

Ahmad M. · 评论about 1 month之前

Dimple S. · 评论about 1 month之前

Yash S. · 评论about 1 month之前

Sushmita S. · 评论about 1 month之前

VANSH K. · 评论about 1 month之前

achal b. · 评论about 1 month之前