关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价
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Suvarna G. · 评论21 days之前
Abhinay P. · 评论21 days之前
Vijay H. · 评论21 days之前
Nilankan P. · 评论21 days之前
Jitendra P. · 评论21 days之前
Anurag N. · 评论21 days之前
Saniya G. · 评论21 days之前
Moch Aril I. · 评论21 days之前
Random S. · 评论21 days之前
nikhitha a. · 评论21 days之前
kadiyala p. · 评论21 days之前
om s. · 评论21 days之前
Punit S. · 评论21 days之前
Bundele D. · 评论21 days之前
Saurav K. · 评论21 days之前
Deepak K. · 评论21 days之前
Sonali S. · 评论21 days之前
Naufal M. · 评论21 days之前
ACHMAD ALFAN A. · 评论21 days之前
Muskan M. · 评论21 days之前
Mohit A. · 评论21 days之前
farheensaba s. · 评论21 days之前
Khushi K. · 评论21 days之前
Sentot S. · 评论21 days之前
Rittwika D. · 评论21 days之前
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