关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价
评论
tanmayee k. · 评论28 days之前
Pratiksha B. · 评论28 days之前
Tummeti K. · 评论28 days之前
Namikaze M. · 评论28 days之前
Jesus N. · 评论28 days之前
Vikas K. · 评论28 days之前
Jacek S. · 评论28 days之前
nice
Vansh K. · 评论28 days之前
Kalyani T. · 评论28 days之前
Pasumarthi S. · 评论28 days之前
TES D. · 评论28 days之前
Seemranjeeta M. · 评论28 days之前
Thellapalli R. · 评论28 days之前
Rossi Nur I. · 评论28 days之前
Rajat K. · 评论28 days之前
Rahul R. · 评论28 days之前
Sneha D. · 评论28 days之前
Viacheslav K. · 评论28 days之前
Tanaya S. · 评论28 days之前
Nice
Saurabh B. · 评论28 days之前
LOGESHWARAN R. · 评论28 days之前
Tejas B. · 评论28 days之前
rishikesh c. · 评论28 days之前
Rangayyagari S. · 评论28 days之前
Ashupal D. · 评论28 days之前
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