关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价
评论
Ajay V. · 评论30 days之前
Mayuresh D. · 评论30 days之前
Yayes Kasnanda B. · 评论30 days之前
Pratik M. · 评论30 days之前
nice
Aditya Mohan S. · 评论30 days之前
Suneel P. · 评论30 days之前
Chandan C. · 评论30 days之前
Abhijeet M. · 评论30 days之前
Robin D. · 评论30 days之前
R K. · 评论30 days之前
KINJAL K. · 评论30 days之前
Jayesh P. · 评论30 days之前
Mayank J. · 评论30 days之前
Riki W. · 评论30 days之前
Shubham B. · 评论30 days之前
Riki W. · 评论30 days之前
Subhrajyoti P. · 评论30 days之前
Muhammad Yusuf R. · 评论30 days之前
Good Lab
Sira H. · 评论30 days之前
DHAYANAND K. · 评论30 days之前
Seershika B. · 评论30 days之前
Great
Dwi Putri A S. · 评论30 days之前
Akash M. · 评论30 days之前
Akash S. · 评论30 days之前
Maila F. · 评论30 days之前
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