关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

Minjae G. · 评论about 4 hours之前

Ripan G. · 评论about 12 hours之前

주호 이. · 评论about 16 hours之前

belliny K. · 评论1 day之前

JaeHyun Y. · 评论2 days之前

Lloyd W. · 评论3 days之前

Arpit S. · 评论3 days之前

Duseok R. · 评论4 days之前

joonha L. · 评论4 days之前

JaeHoon L. · 评论4 days之前

Andrii B. · 评论4 days之前

Eugene Minwhoan K. · 评论4 days之前

good lab

Ruddraksh P. · 评论5 days之前

Apricot S. · 评论5 days之前

good

Lina L. · 评论6 days之前

영찬 김. · 评论7 days之前

Charan K. · 评论9 days之前

유리 홍. · 评论11 days之前

Aditya P. · 评论12 days之前

Kaizin P. · 评论13 days之前

Great!

Chaitanya D. · 评论13 days之前

Sagar M. · 评论14 days之前

Purva s. · 评论15 days之前

David W. · 评论17 days之前

희태 최. · 评论17 days之前