关于“Detect Manufacturing Defects using Visual Inspection AI: Challenge Lab”的评价

耕平 石. · 评论about 9 hours之前

Lakshmi Narayana V. · 评论about 23 hours之前

Sujal M. · 评论2 days之前

Debayan K. · 评论3 days之前

Sougata P. · 评论3 days之前

Mohammed E. · 评论4 days之前

Víctor R. · 评论4 days之前

Ren Jacob C. · 评论4 days之前

Srijib D. · 评论5 days之前

Zivile L. · 评论5 days之前

Ray G. · 评论5 days之前

PINAKI S. · 评论6 days之前

Good

N.Praneeth G. · 评论6 days之前

PHANI G. · 评论6 days之前

Manish Kumar Yadav G. · 评论6 days之前

Congratulations

Priyush K. · 评论7 days之前

Anshika R. · 评论8 days之前

Pravin M. · 评论8 days之前

Aryan R. · 评论8 days之前

Good

Maulik P. · 评论8 days之前

Ananya R. · 评论8 days之前

Kumar A. · 评论8 days之前

Rohit C. · 评论8 days之前

Lionel Jason D. · 评论9 days之前

Dinesh Kumar G. · 评论9 days之前